華榮華P125導(dǎo)電頂針有多種頭型，不同頭型在接觸效果、適用場景等方面各有特點(diǎn)，具體如下：

尖頭（P125-B）：通常設(shè)計為錐形，能精準(zhǔn)定位接觸點(diǎn)，適用于多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的測試點(diǎn)，尤其是被測點(diǎn)為凸?fàn)钇狡蛴醒趸F(xiàn)象的情況，可穿刺污染層，如導(dǎo)腳及焊點(diǎn)的測試，且因其需要的彈力較小，可避免損壞被測物表面。

圓頭（P125-D）：頂端為圓形接觸面，適合微小且準(zhǔn)確的測試區(qū)域，可提供更廣泛的接觸面積，適用于一些對于接觸壓力要求較低的測試場合，能在不損傷測試點(diǎn)的情況下實現(xiàn)良好接觸。

平頭發(fā)（P125-G）：頂端是一個扁平的接觸面，適合于平面上的廣泛接觸，可用于測量突起的平片狀測試點(diǎn)，能提供穩(wěn)定的接觸效果，適用于對接觸面積和穩(wěn)定性有一定要求的平面測試場景。

梅花頭（P125-H）：有多個接觸點(diǎn)散布在頂端，可提供更大的接觸面積，確保信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性，適用于一些對接觸可靠性要求較高的測試場景，如多點(diǎn)接觸的場合。

圓錐頭（P125-E）：圓錐頭設(shè)計可以輕松穿透氧化層和污漬，確保每次測試都能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，適合對準(zhǔn)測試點(diǎn)并保持良好接觸，尤其適用于測試點(diǎn)表面存在一定污染或氧化的情況。

皇冠頭（P125-Q2）：類似于平頭，可用于測量凸起或平片狀的測試點(diǎn)，不粘灰塵及污染物，能在較為復(fù)雜的測試環(huán)境中保持良好的接觸性能，適用于對測試點(diǎn)清潔度有一定要求的場景。