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半導體測試探針由幾部分組成以及應用場景
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產品名稱: SP-040 Q 040 120g
所屬分類:測試探針
產品簡介:SP040探針、0.61mm測試針、總長35.9mm、彈簧針、測試針、頂針、探針
訂購熱線:400-183-6682
產品介紹(產品概述):
針管:黃銅鍍金
彈簧:不銹鋼線
鉆孔尺寸:0.6mm
額定電流:2安培
接觸電阻:30毫歐姆
接觸彈力:80gf
產品名稱: SP-040 J 040 120g
所屬分類:測試探針
產品簡介:SP040探針、0.61mm測試針、總長35.9mm、彈簧針、測試針、頂針、探針
訂購熱線:400-183-6682
產品介紹(產品概述):
針管:黃銅鍍金
彈簧:不銹鋼線
鉆孔尺寸:0.6mm
額定電流:2安培
接觸電阻:30毫歐姆
接觸彈力:80gf
產品名稱: SP-040 K 040 120g
所屬分類:測試探針
產品簡介:SP040探針、0.61mm測試針、總長35.9mm、彈簧針、測試針、頂針、探針
訂購熱線:400-183-6682
產品介紹(產品概述):
針管:黃銅鍍金
彈簧:不銹鋼線
鉆孔尺寸:0.6mm
額定電流:2安培
接觸電阻:30毫歐姆
接觸彈力:80gf
